半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

测试电桥参数

测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

公司以精美的产品、精良的品质、精心的服务赢得了广大用户和市场，拥有一大批国内外科研院所及企业用户。

服务：具有完备的售后服务体系

技术：自主研发+高校实验室联合开发

品质：对产品的精益追求+严格规范的测试

价格：科学的管理成本+高效率合作降低成本

客户：大中院校+科研机构+质检部门+实验室等

GCSTD-D高低频介电常数分析仪

四种信号源输出阻抗

10点列表扫描测试功能

内部自带直流偏置源

外置偏流源至40A（配置两台TH1776）（选件）

电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

V、1测试信号电平监视功能

图形扫描分析功能

20组内部仪器设定可供储存／读取

GCSTD-D高低频介电常数分析仪